Название: Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики Автор: Никитенков Н.Н. Издательство: Томск: Томский политехнический университет Год: 2012 Формат: pdf Страниц: 203 Для сайта:mymirknig.ru Размер: 17 mb Язык: русский
Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества».
Предисловие. Введение. История и актуальность науки о поверхности и методов ее исследования. Строение поверхности. Экспериментальные особенности диагностики поверхности. Явления, лежащие в основе методов исследования поверхности. Теоретические основы методов ионной спектроскопии поверхности. Теоретические основы методов электронной спектроскопии поверхности. Теоретические основы методов структурного анализа поверхности. Задачи. Часто использованные обозначения и аббревиатуры.
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики 
