Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применениеКНИГИ » НАУКА И УЧЕБА
Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Автор: У.Жу, Ж.Л. Уанг(ред.) Издательство: М.: Бином. ЛЗ Год: 2013 Страниц: 606 ISBN: 978-5-9963-2123-0 Формат: PDF Размер: 20 Мб Язык: русский
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение 
