Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля Автор: Д. Брандон, У. Каплан Издательство: Техносфера Серия: Мир материалов и технологий Год издания: 2004 Страниц: 384 ISBN: 5-94836-018-0 Формат: DjVu Размер: 12,6 Мб Качество: отличное Язык: русский
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Навигация
Вход на сайт
Реклама
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля 
